דיפרקטומטר 2D רנטגן שולחני

משמש בעיקר לניתוח שלב איכותני וכמותי של דגימות רב גבישיות, כולל ניתוח כמותי חופשי סטנדרטי, קביעת גבישיות, ניתוח מבנה גבישי, ניתוח מבנה חומר, קביעת גודל גרגר, חידוד מבני, ניתוח מיקרו שטח, ניתוח מתח של סרט דק וטקסטורה וכו'. לתחומים ותעשיות שונות כגון מינרלים, תרופות, כימיקלים, מתכות וסגסוגות, חומרי בניין, ננו-חומרים, סוללות, דגימות מזון, דגימות ביולוגיות וכו'.

תכונות המכשיר:

●צילום גלאי קבוע, שונה ממדדי דיפרקטומי סריקה מסורתיים, מצב הצילום יעיל ומהיר, מהיר בערך פי 5-30 ממצב הסריקה, מתאים לניתוח במקום, ואיסוף מידע עקיפה מזוויות שונות בו זמנית; רזולוציית אנרגיה גבוהה, מפחיתה ביעילות רקע הקרינה.

● מכשיר מדידת זווית θ S θ D-זְרוֹעַ מאמץ מנוע סרוו וטכנולוגיית בקרת קידוד אופטי, וניתן להניע את הגלאי לאורך 2 θ על ידי הזזת הציר בשני מצבים, הגוניומטר מסתובב בצורה חלקה יותר, מדידת זווית העקיפה מדויקת יותר , והלינאריות טובה יותר. קצה מדגם θ סיבוב הציר, דיוק בקרה 0.01°, 2 θ דיוק זווית הציר ± 0.02°.

● הגדר יחידות גלאים מרובות ליצירת רכיבי גלאים, מפוזרים באופן אחיד וקבוע לאורך מעגל העקיפה, ומכסים בצורה חלקה את כל הזוויות; גלאי מערך שכבה כפולה של 21 חלקים (או שכבה אחת של 10 חלקים), המכסה 2 θ טווח: -3°~150°, הדמיה דו-ממדית, איסוף סימולטני γ מידע זווית ונתוני עקיפה דו מימדיים מספקים מידע עשיר יותר.

●גלאי מוליכים למחצה ספירת פוטונים של מערך רנטגן, רגיש ביותר, מסוגל לספור פוטון בודד, טווח דינמי גדול, סף כפול; החלפה של מקורות אור נקודתיים וקו, גיאומטריה אופטית כפולה בין דביי שלר ל-ב.ב, תואם לדגימות מישוריות וגליליות, ותואם למצבי גלאי 2D, 1D ו-OD. והוא עמיד בפני חשיפה ארוכת טווח לקרינה חזקה, עם חיי שירות ארוכים.

●מכשיר ההגנה מפני קרינה בטוח ואמין יותר. במהלך מדידה לדוגמה, דלת ההגנה מפני קרינה אוסרת אוטומטית על פתיחה, מה שיכול למנוע מהמפעילים להיחשף לקרינה מפוזרת בכל מקרה.

●הגודל הקומפקטי יכול להיות מותקן על פלטפורמת הניסוי ללא צורך בסביבת מעבדה ספציפית, מה שהופך אותו קל לשימוש, לתפעול ולתחזוקה.